贵金属无损检测

　　首饰表层元素经X射线激发（穿透厚度通常为几微米到几十微米），发射出特征X射线荧光光谱，根据其特征谱线（能量或波长）进行定性分析。不同元素的X射线荧光强度与其含量之间存在一定的线性关系。随着待测元素的含量由低到高，这种线性关系由强到弱，计算方法逐渐由直接法过渡到归一法、差减法。与标准物质的工作曲线比较计算，可进行定量分析。

　　理论上，X射线荧光光谱仪可检测的元素范围：Na~U（能量色散型）或B~U（波长色散型）。

贵金属有损（仲裁）检测

　　对于金、铂、钯合金首饰，将试样以王水溶解，在盐酸介质中，用ICP光谱仪测得杂质元素的含量。通过差减法，求得贵金属含量。

　　其中金含量为725‰~999‰，铂含量为800‰~999‰，钯含量为800‰~999‰。

　　对于银合金首饰，将样品溶解在稀硝酸中，采用预先标定过的溴化钾溶液，滴定样品溶液来测定其中的银含量，并用电位计指示终点。

　　其中银含量800‰~999‰。

贵金属检测证书

贵金属挂签

贵金属检验报告